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GaN-HEMTs thermal characterization

Paper: Thermische Charakterisierung bei GaN-HEMTs meistern

Entdecken Sie innovative Ansätze, um die thermischen Herausforderungen zukunftsweisender GaN-Technologien zu lösen.

Micred Electronics Testing

Leitfaden: Micred Hardware Nutzen maximieren

Nutzen Sie Ihre Simcenter Micred-Hardware effizienter und steigern Sie direkt den Wert Ihrer Analyseprozesse. Dieses Dokument gibt Ihnen wertvolle Anhaltspunkte.

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Marktanalyse Steuerungselektronik

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EMV-Industrieseminar Magdeburg

Besuchen Sie Novicos auf dem EMV-Tag in Magdeburg und entwickeln Sie mit uns Lösungsansätze für Ihre Herausforderungen in der Elektronik.

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Simcenter Micred T3STER Produktinformationsblatt

Gewinnen Sie einen kompakten Überblick über präzise thermische Charakterisierung in der Elektronikentwicklung.

Workshop zur Optimierung von Leistungselektronik

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Erfahren Sie, wie zuverlässige Leistungstests Ihre Bauteile auf die nächste Stufe bringen.

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