Die Zuverlässigkeit moderner Elektronik basiert auf fundierten Temperaturmessungen und Leistungsanalysen. Siemens Simcenter Micred Messgeräte liefern diese essenziellen Daten mit Präzision und Anbindung an Ihre Prozesskette. Novicos ist Ihr Lösungsanbieter und Partner für die Halbleiterentwicklung.
NDT-Testlösungen für Leistungselektronik und Halbleiter
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Micred T3STER
Ermöglicht eine schnelle und genaue thermische Charakterisierung zur frühzeitigen Identifikation von Designherausforderungen.
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Micred Powertester
Integriert thermische- und Leistungstests für hochgradig effiziente Lebensdaueranalysen Ihrer Leistungselektronik.
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Micred Quality Tester
Ermöglicht die akkurate, thermische Beurteilung und ein anschließendes, automatisiertes Binning von Halbleiterelementen.
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Unsicher, welches Produkt?
Gern berate ich Sie zu Ihrer Herausforderung, unterstütze Sie bei der Auswahl des passenden Produkts und sende Ihnen hierfür weiterführendes Infomaterial zu.
Dr.-Ing. Ömer Yildiz
Ihr Dienstleister und Vertriebspartner für Messsysteme
Wir sind Ansprechpartner für den Erwerb von Siemens Simcenter Micred Produkten. Als erfahrener Dienstleister beraten wir Sie darüber hinaus unparteiisch.
Beratung für die passende Lösung zu Ihrem
Ihr Dienstleister und Vertriebspartner für Messsysteme
Wir sind Ansprechpartner für den Erwerb von Siemens Simcenter Micred Produkten. Als erfahrener Dienstleister beraten wir Sie darüber hinaus unparteiisch.
Beratung für die passende Lösung zu Ihrem Testing-Bedarf
Ansprechpartner zur Messung von Leistungselektronik und anderen Lösungen aus dem Simcenter Portfolio
Implementierung, Integration und Wartung
Fachliche Betreuung und Support für Anwender
Bearbeitung methodischer Fragen und Partner für outgesourcte Entwicklungsaufgaben im Halbleiter-Kontext
Whitepaper
Thermische Charakterisierung komplexer Elektronik
Strukturfunktionen verstehen lernen
Mit der thermischen Charakterisierung verringern Sie das Risiko thermischen Versagens und vermeiden Rückrufe. Erfahren Sie in diesem Whitepaper, wie Sie die thermische Transientenmessung für die Entwicklung von Halbleiterkomponenten einsetzen.
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